Effect of oxygen vacancies on dielectric property and reliability of anti-ferroelectric PLZT applicable to EV-MLCC.

Autor:	Choi, Jeoung Sik1,2 (AUTHOR), Kim, Dong Chul1 (AUTHOR), Shin, Hyo Soon1 (AUTHOR) hshin@kicet.re.kr, Yeo, Dong Hun1 (AUTHOR), Lee, Joon Hyung2 (AUTHOR)
Zdroj:	Bulletin of Materials Science. Mar2024, Vol. 47 Issue 1, p1-8. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.