Thermal activation energy on electrical degradation process in BaTiO3 based multilayer ceramic capacitors for lifetime reliability.

Autor:	Chun, Jinsung1 (AUTHOR) thousandjs@gmail.com, Heo, Jungwoo1 (AUTHOR), Lee, KyungSoo2 (AUTHOR), Ye, Byeong Uk3 (AUTHOR), Kang, Byung Sung1 (AUTHOR), Yoon, Seok-Hyun1 (AUTHOR) seokhyun72.yoon@samsung.com
Zdroj:	Scientific Reports. 1/5/2024, Vol. 14 Issue 1, p1-8. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.