Flexible Measurement of High-Slope Micro-Nano Structures with Tilted Wave Digital Holographic Microscopy.

Autor:	Ma, Xinyang1 (AUTHOR), Xiong, Rui1 (AUTHOR), Wang, Wei1,2 (AUTHOR) wei_w11@fudan.edu.cn, Zhang, Xiangchao1,3 (AUTHOR) wei_w11@fudan.edu.cn
Zdroj:	Sensors (14248220). Dec2023, Vol. 23 Issue 23, p9526. 13p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.