Artificial intelligence approach to analyze SIMS profiles of 11B, 31P and 75As in n- and p-type silicon substrates: experimental investigation.

Autor:	Filali, Walid1 (AUTHOR) wfilali@cdta.dz, Boubaaya, Mohamed1 (AUTHOR), Garoudja, Elyes1 (AUTHOR), Lekoui, Fouaz2 (AUTHOR), Abdellaoui, Ibrahime2 (AUTHOR), Amrani, Rachid3 (AUTHOR), Oussalah, Slimane4 (AUTHOR), Sengouga, Nouredine5 (AUTHOR)
Zdroj:	Zeitschrift für Naturforschung Section A: A Journal of Physical Sciences. Dec2023, Vol. 78 Issue 12, p1143-1151. 9p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.