Surface Roughness-Induced Changes in Important Physical Features of CoFeSm Thin Films on Glass Substrates during Annealing.

Autor:	Fern, Chi-Lon1 (AUTHOR) fengcl@yuntech.edu.tw, Liu, Wen-Jen2 (AUTHOR) jurgen@isu.edu.tw, Chang, Yung-Huang3 (AUTHOR) changyhu@yuntech.edu.tw, Chiang, Chia-Chin4 (AUTHOR) ccchiang@nkust.edu.tw, Chen, Yuan-Tsung5 (AUTHOR) lupei1103@gmail.com, Lu, Pei-Xin5 (AUTHOR) 54xuanmingsu@gmail.com, Su, Xuan-Ming5 (AUTHOR), Lin, Shih-Hung6 (AUTHOR) isshokenmei@yuntech.edu.tw, Lin, Ko-Wei1 (AUTHOR) kwlin@dragon.nchu.edu.tw
Zdroj:	Materials (1996-1944). Nov2023, Vol. 16 Issue 21, p6989. 19p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.