Modeling background level of XRD peak profile for the variance method of size-strain analysis.

Autor:	Gudeta, Endale Abebe1 (AUTHOR) endtse@gmail.com
Zdroj:	Journal of Materials Science. Oct2023, Vol. 58 Issue 38, p15232-15239. 8p. 1 Chart, 5 Graphs.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.