Random Telegraph Noise Degradation Caused by Hot Carrier Injection in a 0.8 μm-Pitch 8.3Mpixel Stacked CMOS Image Sensor †.

Autor:	Chao, Calvin Yi-Ping1 (AUTHOR) mhwuzd@tsmc.com, Wu, Thomas Meng-Hsiu1 (AUTHOR), Yeh, Shang-Fu1 (AUTHOR), Lee, Chih-Lin1 (AUTHOR), Tu, Honyih1 (AUTHOR), Huang, Joey Chiao-Yi1 (AUTHOR), Chang, Chin-Hao1 (AUTHOR)
Zdroj:	Sensors (14248220). Sep2023, Vol. 23 Issue 18, p7959. 14p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.