Evaluating Model Fit in Two-Level Mokken Scale Analysis.

Autor: Koopman, Letty1 letty@lettykoopman.nl, Zijlstra, Bonne J. H.2 l.a.vanderark@uva.nl, Van der Ark, L. Andries2
Zdroj: Psych. Sep2023, Vol. 5 Issue 3, p847-865. 19p.
Databáze: Academic Search Ultimate
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje