Investigation of dual intrinsic a-Si:H films for crystalline silicon surface passivation by spectroscopic ellipsometry: application in silicon heterojunction solar cells.

Autor:	Pandey, Ashutosh1 (AUTHOR), Bhattacharya, Shrestha1 (AUTHOR), Panigrahi, Jagannath1 (AUTHOR), Mandal, Sourav1 (AUTHOR), Komarala, Vamsi Krishna1 (AUTHOR) vamsi@iitd.ac.in
Zdroj:	Applied Physics A: Materials Science & Processing. Aug2023, Vol. 129 Issue 8, p1-10. 10p. 1 Diagram, 2 Charts, 7 Graphs.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.