Influence of Precession Electron Diffraction Parameters and Energy Filtering on Reduced Density Function Analysis of Thin Amorphous Silica Films—Implications for Structural Studies.

Autor:	Chou, Yu-Jen1 (AUTHOR) yu-jen.chou@mail.ntust.edu.tw, Borisenko, Konstantin B.2 (AUTHOR) yu-jen.chou@mail.ntust.edu.tw, Das, Partha Pratim3 (AUTHOR) partha@nanomegas.com, Nicolopoulos, Stavros3 (AUTHOR) info@nanomegas.com, Gemmi, Mauro4 (AUTHOR) mauro.gemmi@iit.it, Kirkland, Angus I.5 (AUTHOR) angus.kirkland@materials.ox.ac.uk
Zdroj:	Symmetry (20738994). Jul2023, Vol. 15 Issue 7, p1291. 12p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.