DG-GAN: A High Quality Defect Image Generation Method for Defect Detection.

Autor:	He, Xiangjie1 (AUTHOR) 321085404413@stu.suse.edu.cn, Luo, Zhongqiang1,2 (AUTHOR) 320085404308@stu.suse.edu.cn, Li, Quanyang1 (AUTHOR), Chen, Hongbo3 (AUTHOR) chb740921@163.com, Li, Feng4,5 (AUTHOR) luozhongqiang@suse.edu.cn
Zdroj:	Sensors (14248220). Jul2023, Vol. 23 Issue 13, p5922. 19p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.