A Spectroscopic Reflectance-Based Low-Cost Thickness Measurement System for Thin Films: Development and Testing.

Autor:	Sánchez-Arriaga, Néstor Eduardo1 (AUTHOR) nesanchezarriaga1@sheffield.ac.uk, Tiwari, Divya1 (AUTHOR) d.tiwari@sheffield.ac.uk, Hutabarat, Windo1 (AUTHOR) a.tiwari@sheffield.ac.uk, Leyland, Adrian2 (AUTHOR) a.leyland@sheffield.ac.uk, Tiwari, Ashutosh1 (AUTHOR)
Zdroj:	Sensors (14248220). Jun2023, Vol. 23 Issue 11, p5326. 19p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.