Validation of High-Availability Model for Edge Devices and IIoT.

Autor:	Peniak, Peter1 (AUTHOR) peter.peniak@feit.uniza.sk, Bubeníková, Emília1 (AUTHOR), Kanáliková, Alžbeta1 (AUTHOR) alzbeta.kanalikova@feit.uniza.sk
Zdroj:	Sensors (14248220). May2023, Vol. 23 Issue 10, p4871. 22p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.