Validation of High-Availability Model for Edge Devices and IIoT.
Autor: | Peniak, Peter1 (AUTHOR) peter.peniak@feit.uniza.sk, Bubeníková, Emília1 (AUTHOR), Kanáliková, Alžbeta1 (AUTHOR) alzbeta.kanalikova@feit.uniza.sk |
---|---|
Zdroj: | Sensors (14248220). May2023, Vol. 23 Issue 10, p4871. 22p. |
Databáze: | Academic Search Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |