The more you avoid, the worse you will get: a cross-lagged panel model of shyness, mobile phone dependence and depression.

Autor:	Jiang, Min1, Ding, Wan1, Wang, Xiaoyue1, Sun, Zhaoxing1, Li, Weijian1, Xie, Ruibo1, Nguyen, Thi Phuong2
Zdroj:	Journal of Mental Health. Jun2023, Vol. 32 Issue 3, p662-669. 8p. 1 Diagram, 1 Chart.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.