The more you avoid, the worse you will get: a cross-lagged panel model of shyness, mobile phone dependence and depression.
Autor: | Jiang, Min1, Ding, Wan1, Wang, Xiaoyue1, Sun, Zhaoxing1, Li, Weijian1, Xie, Ruibo1, Nguyen, Thi Phuong2 |
---|---|
Zdroj: | Journal of Mental Health. Jun2023, Vol. 32 Issue 3, p662-669. 8p. 1 Diagram, 1 Chart. |
Databáze: | Academic Search Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |