Addressing the Conflict between Mobility and Stability in Oxide Thin‐film Transistors.

Autor:	Liang, Lingyan1 (AUTHOR), Zhang, Hengbo1 (AUTHOR), Li, Ting1 (AUTHOR), Li, Wanfa1 (AUTHOR), Gao, Junhua1 (AUTHOR), Zhang, Hongliang1 (AUTHOR), Guo, Min2 (AUTHOR), Gao, Shangpeng3 (AUTHOR), He, Zirui3 (AUTHOR), Liu, Fengjuan1 (AUTHOR) liufengjuan@boe.com.cn, Ning, Ce4 (AUTHOR), Cao, Hongtao5 (AUTHOR) h_cao@nimte.ac.cn, Yuan, Guangcai4 (AUTHOR) yuanguangcai@boe.com.cn, Liu, Chuan2 (AUTHOR) liuchuan5@mail.sysu.edu.cn
Zdroj:	Advanced Science. 5/17/2023, Vol. 10 Issue 14, p1-11. 11p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.