Adaptive Memory Control Charts Constructed on Generalized Likelihood Ratio Test to Monitor Process Location.

Autor:	Zaman, Babar1 (AUTHOR) baberzaman@uhb.edu.sa, Lee, Muhammad Hisyam2 (AUTHOR), Riaz, Muhammad3 (AUTHOR), Abujiya, Mu'azu Ramat4 (AUTHOR), Mehmood, Rashid1 (AUTHOR), Abbas, Nasir3 (AUTHOR)
Zdroj:	Arabian Journal for Science & Engineering (Springer Science & Business Media B.V. ). Nov2022, Vol. 47 Issue 11, p15049-15081. 33p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.