Frequency domain interferometry for measuring ultrafast refractive index modulation and surface deformation.

Autor:	Tamming, Ronnie R.1,2,3,4,5 (AUTHOR), Hodgkiss, Justin M.3,5 (AUTHOR) Justin.Hodgkiss@vuw.ac.nz, Chen, Kai1,2,3,4 (AUTHOR)
Zdroj:	Advances in Physics: X. Dec2022, Vol. 7 Issue 1, p1-34. 34p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.