The Effect of Dislocation and Interface-Roughness Scattering on Electron Mobility in the MgZnO/ZnO Heterostructure.

Autor:	Liu, DongFeng1 (AUTHOR)
Zdroj:	Advances in Materials Science & Engineering. 8/2/2022, p1-7. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.