Comparison of STM and AFM Measurements of Mo Thin Films with the Kardar–Parisi–Zhang Model.

Autor:	Fomin, L. A.1 (AUTHOR) fomin@iptm.ru, Malikov, I. V.1 (AUTHOR), Berezin, V. A.1 (AUTHOR), Rassadin, A. E.2 (AUTHOR), Loginov, A. B.3 (AUTHOR), Loginov, B. A.4 (AUTHOR)
Zdroj:	Technical Physics. Feb2022, Vol. 67 Issue 2, p61-68. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.