On the Size Effect in MOS Structures under Ionizing Irradiation.

Autor:	Aleksandrov, O. V.1 (AUTHOR) Aleksandr_ov@mail.ru
Zdroj:	Semiconductors. Apr2022, Vol. 56 Issue 4, p241-245. 5p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.