ToTEM: A software for fast TEM image simulation.

Autor:	Yuan, P. J.1 (AUTHOR), Wu, K. P.2 (AUTHOR), Chen, S. W.2 (AUTHOR), Zhang, D. L.3 (AUTHOR), Jin, C. H.1,4 (AUTHOR), Yao, Y.5 (AUTHOR) yaoyuan@iphy.ac.cn, Lin, F.2 (AUTHOR) flin_rew@163.com
Zdroj:	Journal of Microscopy. Aug2022, Vol. 287 Issue 2, p93-104. 12p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.