Depth profiling of Cr-ITO dual-layer sample with secondary ion mass spectrometry using MeV ions in the low energy region.

Autor:	Barac, Marko1,2 (AUTHOR) mbarac@irb.hr, Brajković, Marko1 (AUTHOR), Siketić, Zdravko1 (AUTHOR), Ekar, Jernej2,3 (AUTHOR), Bogdanović Radović, Iva1 (AUTHOR), Šrut Rakić, Iva4 (AUTHOR), Kovač, Janez3 (AUTHOR)
Zdroj:	Scientific Reports. 7/8/2022, Vol. 12 Issue 1, p1-6. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.