X-ray Diffraction Analysis of the Structure In0.53Ga0.47As Films Grown on (100) and (111)A GaAs Substrates with a Metamorphic Buffer.

Autor:	Folomeshkin, M. S.1,2 (AUTHOR) folmaxim@gmail.com, Volkovsky, Yu. A.1,2 (AUTHOR), Prosekov, P. A.1,2 (AUTHOR), Galiev, G. B.3 (AUTHOR), Klimov, E. A.3 (AUTHOR), Klochkov, A. N.3 (AUTHOR), Pushkarev, S. S.3 (AUTHOR), Seregin, A. Yu.1,2 (AUTHOR), Pisarevsky, Yu. V.1,2 (AUTHOR), Blagov, A. E.1,2 (AUTHOR), Kovalchuk, M. V.1,2,4 (AUTHOR)
Zdroj:	Crystallography Reports. Jun2022, Vol. 67 Issue 3, p317-322. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.