Device-Independent Certification of Maximal Randomness from Pure Entangled Two-Qutrit States Using Non-Projective Measurements.

Autor:	Borkała, Jakub J.1 (AUTHOR) jborkala@cft.edu.pl, Jebarathinam, Chellasamy1 (AUTHOR), Sarkar, Shubhayan1 (AUTHOR), Augusiak, Remigiusz1 (AUTHOR)
Zdroj:	Entropy. Mar2022, Vol. 24 Issue 3, p350-350. 13p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.