Fractal Analysis on Surface Topography of Thin Films: A Review.

Autor:	Zhou, Wenmeng1 (AUTHOR) zhouwm21@mails.tsinghua.edu.cn, Cao, Yating1 (AUTHOR) cyt20@mails.tsinghua.edu.cn, Zhao, Haolin1 (AUTHOR) zhaohl21@mails.tsinghua.edu.cn, Li, Zhiwei1,2 (AUTHOR) zw-li19@mails.tsinghua.edu.cn, Feng, Pingfa1,2 (AUTHOR) feng.pingfa@sz.tsinghua.edu.cn, Feng, Feng1 (AUTHOR) feng.feng@sz.tsinghua.edu.cn
Zdroj:	Fractal & Fractional. Mar2022, Vol. 6 Issue 3, p135-135. 30p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.