Quantified density of performance-degrading near-interface traps in SiC MOSFETs.

Autor:	Chaturvedi, Mayank1,2 (AUTHOR) mayank.chaturvedi@griffithuni.edu.au, Dimitrijev, Sima1,2 (AUTHOR), Haasmann, Daniel1,2 (AUTHOR), Moghadam, Hamid Amini1,2 (AUTHOR), Pande, Peyush3 (AUTHOR), Jadli, Utkarsh1,2 (AUTHOR)
Zdroj:	Scientific Reports. 3/8/2022, Vol. 12 Issue 1, p1-9. 9p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.