A study of thickness dependent microstructure of poly (3-hexylthiophene) thin films using grazing incidence x-ray diffraction.

Autor:	Kumar, Manoj1 (AUTHOR), Velaga, Srihari2 (AUTHOR), Singh, Amarjeet1 (AUTHOR) amarjeet.sirohi@gmail.com
Zdroj:	Soft Materials. 2022, Vol. 20 Issue 1, p24-34. 11p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.