Recommended implementation of electrical resistance tomography for conductivity mapping of metallic nanowire networks using voltage excitation.

Autor:	Cultrera, Alessandro1 a.cultrera@inrim.it, Milano, Gianluca2,3, De Leo, Natascia2, Ricciardi, Carlo3, Boarino, Luca2, Callegaro, Luca1
Zdroj:	Scientific Reports. 6/23/2021, Vol. 11 Issue 1, p1-8. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.