Synchrotron X-ray diffraction observation of phase transformation during annealing of Si processed by high-pressure torsion.

Autor:	Ikoma, Yoshifumi1 (AUTHOR) ikoma@zaiko.kyushu-u.ac.jp, Yamasaki, Terumasa1 (AUTHOR), Masuda, Takahiro1,2 (AUTHOR), Tange, Yoshinori3 (AUTHOR), Higo, Yuji3 (AUTHOR), Ohishi, Yasuo3 (AUTHOR), McCartney, Martha R.4 (AUTHOR), Smith, David J.4 (AUTHOR), Horita, Zenji1,5,6,7 (AUTHOR)
Zdroj:	Philosophical Magazine Letters. Jun2021, Vol. 101 Issue 6, p223-231. 9p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.