Electronic energy loss and straggling in low energy H+ and H2+ interaction with silicon films.

Autor:	Mery, Mario1,2 (AUTHOR), Uribe, Juan D.1 (AUTHOR), Flores, Marcos3 (AUTHOR), Arista, Néstor R.4 (AUTHOR), Esaulov, Vladimir A.1,5 (AUTHOR) Vladimir.esaulov@u-psud.fr, Valdés, Jorge E.1 (AUTHOR)
Zdroj:	Radiation Effects & Defects in Solids: Incorporating Plasma Techniques & Plasma Phenomena. Jan-Feb2021, Vol. 176 Issue 1/2, p73-91. 19p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.