The Effect of the Ionizing Radiation Intensity on the Response of MOS Structures.

Autor:	Aleksandrov, O. V.1 (AUTHOR) Aleksandr_ov@mail.ru
Zdroj:	Semiconductors. Feb2021, Vol. 55 Issue 2, p207-213. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.