A machine learning approach for imputation and anomaly detection in IoT environment.

Autor:	Vangipuram, Radhakrishna1 (AUTHOR), Gunupudi, Rajesh Kumar1 (AUTHOR) gunupudirajesh@gmail.com, Puligadda, Veereswara Kumar2 (AUTHOR), Vinjamuri, Janaki3 (AUTHOR)
Zdroj:	Expert Systems. Oct2020, Vol. 37 Issue 5, p1-16. 16p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.