Patch and curvature specific estimation of efficient sampling scheme for complex surface inspection.

Autor:	Abdulhameed, Osama1,2 (AUTHOR), Mian, Syed Hammad1 (AUTHOR) smien@ksu.edu.sa, Al-Ahmari, Abdulrahman1,2 (AUTHOR), Alkhalefah, Hisham1 (AUTHOR)
Zdroj:	International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Oct2020, Vol. 110 Issue 11/12, p3407-3422. 16p. 3 Color Photographs, 1 Black and White Photograph, 8 Diagrams, 3 Charts, 1 Graph.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.