Effect of Submicron Structural Parameters on the Performance of a Multi-Diode CMOS Compatible Silicon Avalanche Photodetector.

Autor:	Majumder, K.1 (AUTHOR) kanishka.majumder83@gmail.com, Rakshit, P.2 (AUTHOR), Das, N. Ranjan2 (AUTHOR)
Zdroj:	Semiconductors. Sep2020, Vol. 54 Issue 9, p1032-1038. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.