Focus characterization of an X‐ray free‐electron laser by intensity correlation measurement of X‐ray fluorescence.

Autor:	Nakamura, Nami1 (AUTHOR), Matsuyama, Satoshi1 (AUTHOR) matsuyama@prec.eng.osaka-u.ac.jp, Inoue, Takato1 (AUTHOR), Inoue, Ichiro2 (AUTHOR), Yamada, Jumpei1,2 (AUTHOR), Osaka, Taito1,2 (AUTHOR), Yabashi, Makina2 (AUTHOR), Ishikawa, Tetsuya2 (AUTHOR), Yamauchi, Kazuto1 (AUTHOR)
Zdroj:	Journal of Synchrotron Radiation. Sep2020, Vol. 27 Issue 5, p1366-1371. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.