On the effect of the measurement error on Shewhart t and EWMA t control charts.

Autor:	Nguyen, Huu Du1 (AUTHOR), Tran, Kim Phuc2 (AUTHOR) kim-phuc.tran@ensait.fr, Celano, Giovanni3 (AUTHOR), Maravelakis, Petros E.4 (AUTHOR), Castagliola, Philippe5 (AUTHOR)
Zdroj:	International Journal of Advanced Manufacturing Technology. Apr2020, Vol. 107 Issue 9/10, p4317-4332. 16p. 1 Diagram, 6 Charts, 12 Graphs.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.