Lateral Inhomogeneities of Sapphire Plates Determined with the Aid of X-Ray and Probe Methods.

Autor:	Asadchikov, V. E.1 (AUTHOR) asad@crys.ras.ru, Blagov, A. E.1,2 (AUTHOR), Butashin, A. V.1 (AUTHOR), Volkov, Yu. O.1 (AUTHOR), Deryabin, A. N.1 (AUTHOR), Kanevskii, V. M.1 (AUTHOR), Muslimov, A. E.1 (AUTHOR), Protsenko, A. I.1,2 (AUTHOR), Roshchin, B. S.1 (AUTHOR), Targonskii, A. V.1,2 (AUTHOR), Chukhovskii, F. N.1 (AUTHOR)
Zdroj:	Technical Physics. Mar2020, Vol. 65 Issue 3, p400-406. 7p. 1 Chart, 5 Graphs.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.