Secondary electron hyperspectral imaging: nanostructure and chemical analysis for the LV-SEM.

Autor:	Nohl, James F.1 nohljames@gmail.com
Zdroj:	Materials Science & Technology. Mar2020, Vol. 36 Issue 5, p527-539. 13p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.