The Study of Nanoindentation of Atomically Flat GaAs Surface using the Tip of Atomic-Force Microscope.

Autor: Prasolov, N. D.1 (AUTHOR) ndprasolov@itmo.ru, Ermakov, I. A.1,2 (AUTHOR) ivanermakov9459@gmail.com, Gutkin, A. A.2 (AUTHOR) agut@defect.ioffe.ru, Solov'ev, V. A.2 (AUTHOR) vasol@beam.ioffe.ru, Dorogin, L. M.1 (AUTHOR) leonid.dorogin@niuitmo.ru, Konnikov, S. G.2 (AUTHOR) konnikov@mail.ioffe.ru, Brunkov, P. N.1,2 (AUTHOR) brunkov@mail.ioffe.ru
Zdroj: Semiconductors. Dec2019, Vol. 53 Issue 16, p2110-2114. 5p.
Databáze: Academic Search Ultimate
Externí odkaz:
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje