The long term risk of lead failure in patients with cardiovascular implantable electronic devices undergoing catheter ablation.

Autor:	Farkowski, Michal M.1 (AUTHOR) mfarkowski@gmail.com, Maciag, Aleksander1 (AUTHOR), Ciszewski, Jan1 (AUTHOR), Kowalik, Ilona1 (AUTHOR), Syska, Pawel1 (AUTHOR), Sterlinski, Maciej2 (AUTHOR), Szwed, Hanna1 (AUTHOR), Pytkowski, Mariusz1 (AUTHOR)
Zdroj:	Scandinavian Cardiovascular Journal. Dec2019, Vol. 53 Issue 6, p323-328. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.