Comparison of Transmission Electron Microscopy and X-Ray Reflectometry Data in the Study of the Structure of Silicon-Carbon Nanocomposite Films.

Autor:	Asadchikov, V. E.1,2 (AUTHOR), Volkov, Y. O.1 (AUTHOR), Dyachkova, I. G.1 (AUTHOR), Zhigalina, O. M.1,3 (AUTHOR), Kanevsky, V. M.1 (AUTHOR), Muslimov, A. E.1 (AUTHOR), Nuzhdin, A. D.1 (AUTHOR), Pimenov, S. M.4 (AUTHOR), Roshchin, B. S.1 (AUTHOR) ross@crys.ras.ru, Rusakov, A. A.1 (AUTHOR), Khmelenin, D. N.1 (AUTHOR), Shahbazov, S. Y.5 (AUTHOR), Shupegin, M. L.6 (AUTHOR)
Zdroj:	Crystallography Reports. Sep2019, Vol. 64 Issue 5, p793-797. 5p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.