A Technique for Measuring the Resistance of an Electrical Breakdown Channel in Thin Dielectric Films.
Autor: | Pakhotin, V. A.1 (AUTHOR) v.pakhotin@mail.ioffe.ru, Sudar, N. T.2 (AUTHOR) sudar53@mail.ru |
---|---|
Zdroj: | Instruments & Experimental Techniques. Jul2019, Vol. 62 Issue 3, p329-336. 8p. |
Databáze: | Academic Search Ultimate |
Externí odkaz: | |
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje | K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit. |