A Technique for Measuring the Resistance of an Electrical Breakdown Channel in Thin Dielectric Films.

Autor: Pakhotin, V. A.1 (AUTHOR) v.pakhotin@mail.ioffe.ru, Sudar, N. T.2 (AUTHOR) sudar53@mail.ru
Zdroj: Instruments & Experimental Techniques. Jul2019, Vol. 62 Issue 3, p329-336. 8p.
Databáze: Academic Search Ultimate
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje