Ellipsometric Method for Measuring the CdTe Buffer-Layer Temperature in the Molecular-Beam Epitaxy of CdHgTe.

Autor:	Shvets, V. A.1,2 (AUTHOR) shvets@isp.nsc.ru, Azarov, I. A.1,2 (AUTHOR), Marin, D. V.1 (AUTHOR), Yakushev, M. V.1 (AUTHOR), Rykhlitsky, S. V.1 (AUTHOR)
Zdroj:	Semiconductors. Jan2019, Vol. 53 Issue 1, p132-137. 6p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.