Determination of the Parameters of Metal–Insulator–Semiconductor Structures with Ultrathin Insulating Layer from High-Frequency Capacitance–Voltage Measurements.

Autor:	Goldman, E. I.1 (AUTHOR) gvc@ms.ire.rssi.ru, Kuharskaya, N. F.1 (AUTHOR), Levashov, S. A.1 (AUTHOR), Chucheva, G. V.1 (AUTHOR)
Zdroj:	Semiconductors. Jan2019, Vol. 53 Issue 1, p42-45. 4p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.