Electron Probe X-Ray Analysis of Nanofilms at Off-Normal Incidence of the Electron Beam.

Autor:	Darznek, S. A.1 fgupnicpv@mail.ru, Mityukhlyaev, V. B.2, Todua, P. A.2, Filippov, M. N.1,2 fil@igic.ras.ru
Zdroj:	Inorganic Materials. Dec2018, Vol. 54 Issue 14, p1417-1420. 4p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.