Comparison of cross-sectional transmission electron microscope studies of thin germanium epilayers grown on differently oriented silicon wafers.

Autor:	NORRIS, D.J.1, MYRONOV, M.2, LEADLEY, D.R.2, WALTHER, T.1 t.walther@sheffield.ac.uk
Zdroj:	Journal of Microscopy. Dec2017, Vol. 268 Issue 3, p288-297. 10p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.