Diffraction effects and inelastic electron transport in angle-resolved microscopic imaging applications.

Autor:	WINKELMANN, A.1 aimo.winkelmann@bruker.com, NOLZE, G.2, VESPUCCI, S.3, NARESH‐KUMAR, G.3, TRAGER‐COWAN, C.3, VILALTA‐CLEMENTE, A.4, WILKINSON, A.J.4, VOS, M.5
Zdroj:	Journal of Microscopy. Sep2017, Vol. 267 Issue 3, p330-346. 17p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.