On-wafer characterization setup for model extraction and validation of high-power GaN HEMT switches.

Autor:	Pirola, M.1, Camarchia, V.1 vittorio.camarchia@polito.it, Quaglia, R.1, Ramella, C.1
Zdroj:	International Journal of Numerical Modelling. Jan/Feb2017, Vol. 30 Issue 1, pn/a-N.PAG. 7p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.