Multilevel logic and thermal co-simulation.

Autor:	Jani, Lázár1 jani@eet.bme.hu, Poppe, András1
Zdroj:	Microelectronics Reliability. Dec2016, Vol. 67, p46-53. 8p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Full Text from ScienceDirect