Inline electron holography and VEELS for the measurement of strain in ternary and quaternary (In,Al,Ga)N alloyed thin films and its effect on bandgap energy.

Autor:	MÁNUEL, J.M.1, KOCH, C.T.2, ÖZDÖL, V.B.3, SIGLE, W.4, VAN AKEN, P.A.4, GARCÍA, R.1, MORALES, F.M.1
Zdroj:	Journal of Microscopy. Jan2016, Vol. 261 Issue 1, p27-35. 9p.
Databáze:	Academic Search Ultimate
Externí odkaz:	Zobrazit plný text záznamu Plný text ve formátu HTML
Nepřihlášeným uživatelům se plný text nezobrazuje	K zobrazení výsledku je třeba se přihlásit.